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穿戴耳機常用晶振類(lèi)型與關(guān)鍵要求
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  • 責任編輯:加科電子
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  • 發(fā)表時(shí)間:2025-05-29

 穿戴耳機作為高度集成化的消費電子產(chǎn)品,其晶振需滿(mǎn)足微型化、低功耗、高穩定性等核心需求。以下從晶振類(lèi)型、技術(shù)要求及行業(yè)趨勢展開(kāi)分析: 一、常用晶振類(lèi)型   1. 32.768kHz 實(shí)時(shí)時(shí)鐘(RTC)晶振     - 作用:用于系統時(shí)鐘同步、低功耗待機模式計時(shí)。     - 封裝:1610(1.6×1.0mm)、2012(2.0×1.2mm)等超小貼片封裝。     目前NDK晶振的NX1610SA,NX2012SA。京瓷晶振的ST1610SB,ST2012SB愛(ài)普生晶振的FC1610AN,FC-12M等一線(xiàn)品牌均可滿(mǎn)足微型化的需求,且性能穩定,被比較多的應用在一些高端或者出口的耳機市場(chǎng) 2. 高頻主時(shí)鐘晶振(16-52MHz)     - 作用:驅動(dòng)藍牙/Wi-Fi芯片(如高通QCC系列、恒玄BES系列)。     - 典型頻率:16MHz(藍牙基礎頻率)、26MHz/40MHz(射頻模塊基準)。     - 封裝:2016、1612(1.6×1.2mm),部分高端型號采用1210(1.2×1.0mm)。     - 示例型號:NDK晶振的NX2016SA,NX1612SA;KDS晶振的DSX1612S;愛(ài)普生晶振的FA-118T。SiTime SiT1602 MEMS振蕩器。   3. 溫度補償晶振(TCXO)     - 應用場(chǎng)景:支持藍牙5.2以上協(xié)議的高端耳機,提升射頻穩定性。     - 特點(diǎn):頻率偏差±1~5ppm,適應-40℃~+85℃寬溫環(huán)境。     - 示例型號:Abracon晶振的 ASTX-H11系列、KYOCERA KT3225T、TXC晶振的7L系列。   二、核心技術(shù)要求   1. 微型化封裝     - 穿戴耳機PCB空間有限,晶振需采用超小封裝(如1612、1210),焊盤(pán)設計兼容回流焊工藝。   2. 低功耗設計     - 電流要求:RTC晶振功耗需<1μA,高頻晶振負載電流<2mA(如SiTime MEMS方案)。     - 啟動(dòng)時(shí)間:<5ms(快速喚醒藍牙連接)。   3. 高頻率穩定性     - 基礎要求:±10~20ppm(滿(mǎn)足藍牙通信同步需求)。     - 溫補需求:TCXO在極端溫度下頻率偏差≤±5ppm。   4. 抗干擾與可靠性     - 抗振性:能承受20G機械沖擊(適應運動(dòng)場(chǎng)景)。     - EMI防護:采用金屬屏蔽封裝或內置濾波電路(如NDK的DSBGA封裝)。   5. 供應鏈適配性     - 交期與成本:優(yōu)先選擇通用封裝(如1612,2016)以降低備貨風(fēng)險,高端型號需平衡性能和價(jià)格。  加科電子倉庫常年備足現貨32MHZ 1612,2016等參數的現貨。歡迎更多客戶(hù)了解咨詢(xún)。 三、行業(yè)趨勢與替代方案   1. MEMS晶振替代傳統石英     - 優(yōu)勢:抗振動(dòng)、耐高溫、壽命長(cháng)(如SiTime MEMS方案)。     - 挑戰:成本較高,需針對特定芯片優(yōu)化匹配。   2. 集成化方案     - 部分芯片廠(chǎng)商(如Dialog、Nordic)將RTC與主時(shí)鐘集成,減少外部晶振數量。   3. 綠色環(huán)保要求     - 符合RoHS 3.0、無(wú)鉛(Pb-Free)焊接工藝。   四、典型廠(chǎng)商與選型參考   日系進(jìn)口NDK晶振: NX2016SA-26.000MHZ  頻率26MHz     封裝2016    精度誤差±10ppm,低功耗  

日系進(jìn)口EPSON晶振  FC1610AN 32.768KHZ   頻率32.768kHz    封裝1610     超薄0.6mm厚度      

美系進(jìn)口SiTime晶振:SiT1602B-16-33E-26M 頻率范圍16-52MHz    封裝1612    MEMS抗振動(dòng)

臺系高性?xún)r(jià)比TXC晶振:8Y-26.000MAAE-T    頻率26MHz       封裝2016    高精度 ±20ppm,高性?xún)r(jià)比 五、驗證與測試建議   1. 實(shí)測參數:使用網(wǎng)絡(luò )分析儀驗證相位噪聲(<-150dBc/Hz@1kHz偏移)。   2. 環(huán)境測試:高低溫循環(huán)(-40℃~85℃)下監測頻率漂移。   3. 兼容性測試:匹配藍牙芯片的負載電容(如8pF或12pF)。   總結:穿戴耳機的晶振選型需圍繞“小、省、穩”展開(kāi),優(yōu)先考慮微型封裝、低功耗與抗干擾能力,同時(shí)結合供應鏈靈活性和成本效益,選擇如NDK、SiTime等頭部廠(chǎng)商方案以滿(mǎn)足高性能需求。

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